Nieuw jaar, nieuwe baan? Bekijk de aanbiedingen! meer ...
HJM Piepenbrock Becker ClearClean
cleanroom online
Duits Engels Frans Hongaars Pools Tsjechisch Italiaans Spaans Nederlands

Alle publicaties van IMEC Belgium

Verticale bufferlekstroom in doorlaatrichting, gemeten op 1200V GaN-on-QST® bij twee verschillende temperaturen: (links) 25°C en (rechts) 150°C. De 1200V-buffer van Imec toont een verticale lekstroom onder 1µA/mm² bij 25°C en onder 10µA/mm² bij 150°C tot 1200V met een doorbraak van meer dan 1800V, zowel bij 25°C als bij 150°C, waardoor het geschikt is voor de verwerking van 1200V-componenten. / Verticale forward buffer lekstroom gemeten op 1200V GaN-on-QST® bij twee verschillende temperaturen: (links) 25°C en (rechts) 150°C. De 1200V-buffer van Imec toont een verticale lekstroom onder 1µA/mm² bij 25°C en onder 10µA/mm² bij 150°C tot 1200V met een doorbraak van meer dan 1800V, zowel bij 25°C als bij 150°C, wat het geschikt maakt voor de verwerking van 1200V-apparaten.

Dit baanbrekende resultaat effent de weg voor de toetreding van GaN tot het SiC-hoofdstroomgebied

Imec en AIXTRON presenteren 200-mm-GaN-epitaxie op AIX G5+ C voor 1200-V-toepassingen met een doorbraak bij meer dan 1800 V

Imec, een wereldwijd toonaangevend onderzoeks- en innovatiecentrum voor nano-elektronica en digitale technologieën, en AIXTRON, de toonaangevende leverancier van coatingapparatuur voor compound halfgeleider-materialen, hebben de epitaxiale groei van Galliumnitrid (GaN)-pufferschichten geïntroduceerd…
De Neuropixels 2.0-pen (onderaan) is kleiner dan de eerste generatie (bovenaan) en kan neurale activiteit gedurende weken monitoren.

Een nieuwe generatie kleine opnamesondes kan dezelfde neuronen in kleine muizenhersenen weken - ja zelfs maanden - volgen.

Nieuwste Neuropixels-sondes kunnen neuronen voor meerdere weken monitoren

De nieuwe tools bouwen voort op het succes van de oorspronkelijke Neuropixels-sonden, die in 2017 werden geïntroduceerd en momenteel in meer dan 400 laboratoria worden gebruikt. Neuropixels 2.0 zijn veel kleiner - ongeveer slechts een derde zo groot als de voorganger. Ze zijn ontwikkeld om de elektr…
28 nm pitch enkele-expositie-structurering met het MOx-proces van Inpria op een 0,33NA EUV-volveldscanner na Ru-metallisatie. / 28 nm pitch single-exposure patroonvorming met behulp van Inpria’s MOx-proces op een 0,33NA EUV-volveldscanner na Ru-metallisatie. 24 nm pitch lijnen/afstanden, verkregen op een 0,33NA NXE:3400B full-field scanner, (links) na het ontwikkelen en (rechts) na het etsen op de kritische doelmaat (CD) (uLER = onbevooroordeelde randrandruis). 28nm contactgaten, verkregen met een 0,33NA NXE:3400 full-field scanner, na het ontwikkelen. / 28nm contactgaten verkregen op een 0,33NA NXE:3400 full-field scanner, na het ontwikkelen.

Aangetoonde correlatie tussen morfologische en elektrische gegevens op 28-nm-pitch lijnen/-ruimtes verhoogt het begrip van de impact van stochastische defecten op de betrouwbaarheid/opbrengst van de componenten

Imec drijft de single-exposure patroonvorming-vaardigheid van 0,33NA EUVL tot het uiterste

Deze week presenteren imec, een wereldwijd toonaangevend onderzoeks- en innovatiecentrum voor nano-elektronica en digitale technologieën, en ASML, de wereldwijde marktleider in de productie van halfgeleiderlithografiesystemen, op de SPIE Advanced Lithography Conference 2021 meerdere lezingen die de…

Samenwerking tussen Sarcura en imec richt zich op de ontwikkeling van een op silicium-fotoniek gebaseerde cytometrieoplossing die realtime procescontrole en manipulatie van cellen mogelijk maakt.

SARCURA en imec werken samen aan een high-throughput cytometrie-oplossing voor de geautomatiseerde (T-)celseparatie, om de uitdagingen bij de productie van cel- en gentherapieën aan te pakken

De Sarcura GmbH, een Oostenrijkse technologie-startup in de beginfase, kondigde vandaag de samenwerking aan met imec, een wereldwijd toonaangevend onderzoeks- en innovatiecentrum voor nano-elektronica en digitale technologieën. Het doel is de ontwikkeling van een op siliciumchip gebaseerd prototype…
Een blik in de NIEUWSBRIEF

Beter geïnformeerd: Met het JAARBOEK, de NIEUWSBRIEF, NEWSFLASH, NEWSEXTRA en de EXPERTENGIDS

Blijf op de hoogte en abonneer u op onze maandelijkse e-mail NIEUWSBRIEF en NEWSFLASH en NEWSEXTRA. Krijg meer informatie over de reinruimtewereld met ons gedrukte JAARBOEK. En ontdek wie de experts op het gebied van reinruimtes zijn in onze gids.

Systec & Solutions GmbH Vaisala C-Tec MT-Messtechnik