Új év, új munka? Nézze meg az ajánlatokat! Több ...

Összes publikáció: Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA

Kép 1: Egy szűrőmembránon kivont részecskék egy autóalkatrész vizsgálatából (balra) és egyes, kritikus részecskék (jobbra)

Kép 2: A különböző autóalkatrészek spektruma

Kép 3: Egy tisztaság-elemzés összetevői (balra) a VDA 19 szerint (jobbra)

Kép 4: Egy példa egy injekcióval végzett kivonásra

Kép 5: Az eltérő elemzési módszerek információtartalma

Kép 6: Elemzőszűrő (felső) és egy képzési vizsgálat értékelése (alsó)

Kép 7: A szerelés tisztaságát befolyásoló tényezők (balra) a VDA 19.2 szerint (jobbra)

Kép 8: A Tape-Lift módszer elve (balra) és a részecskék gyűjtése üledékes csapdákkal (jobbra)

Kép 9: A különböző orvostechnikai termékek spektruma

Kép 10: Részecskeelemzés tisztatéri körülmények között

Kép 11: A tisztítási hatékonyság meghatározása a tisztítási eljárások összehasonlításához

Kép 12: A VDA 19 felülvizsgálatának fő témakörei

Kép 13: Oktatási program az ellenőr és tervező számára a műszaki tisztaságért

28.06.2013
‌
F+E & Érdekközösség

Technikai tisztaság: A részecskék tisztaságának meghatározása - az autóipartól a orvostechnikáig

1. Követelmények a részecskeszűrtség tekintetében

A félvezetőiparban gyártott integrált áramkörök, amelyek szerkezeti szélessége jelenleg akár 22 nm is lehet, azonnal nyilvánvalóvá teszik a magas szintű részecskeszűrtség iránti igényt. A részecskeszűrtség, azaz a kritikus részecskék mikrométeres tart…

Hamilton Microlab Star az ISO 1-es tisztatérben a Fraunhofer IPA-nál

Hamilton Microlab Star az ISO 1-es tisztatérben a Fraunhofer IPA-ban. Kép forrása: Fraunhofer IPA

Hamilton Microlab Star az ISO 1-es tisztatérben a Fraunhofer IPA-nál folyadékvizualizáció közben. Kép forrása: Fraunhofer IPA

Hamilton Microlab Star az ISO 1 tisztatérben a Fraunhofer IPA-nál egy áramlásvizualizáció során. Kép forrása: Fraunhofer IPA

Elhelyezett PCA ülemerülő lemezek a sedimentált mikroorganizmusok mérésére egy Hamilton Microlab Starban. Kép forrása: Fraunhofer IPA

Elhelyezett szilícium-waferek az üledékes részecskék mérésére egy Hamilton Microlab Star-ban. Kép forrása: Fraunhofer IPA

17.05.2013
‌
F+E & Érdekközösség

Vizsgáztatás egy pipettázó robot steril gyártáshoz

Tartalom:
1       Bevezetés
2       A szükséges vizsgálatok meghatározása
3       Elvégzett vizsgálatok
3.1       A részecskeszám mérés kritikus ellenőrző pontokon
3.2       Áramlás vizualizáció
3.3       Media Fill szimuláció
3.4       A szennyeződés kockázatának mérése a termék szintjén
3.4.1       Mikrobiológiai szennyeződés kockázata
3.4.2&nbs…

Clean2013-NELIOR-Rugalmasság / AAF-Lufttechnik GmbH

mosaix_stitchedimage_particleanalyzer_1 / Carl Zeiss Microscopy GmbH

ismeretlen fémes részecske részecskeelemző 2 / Carl Zeiss Microscopy GmbH

corrmic_particle_unknown / Carl Zeiss Mikroskopie GmbH

MAS-100 ISO NT folyamatos, petri-csésze nélkül / MBV AG

MAS-100 ISO NT CM asztallal és Petriszállal / MBV AG

08.02.2013
‌
F+E & Érdekközösség

Légszűrő közeg, „Korrelatív részecskeelemző” és egy mérőeszköz a biológiai levegőszennyezés mérésére meggyőzi a zsűrit

Interdiszciplináris sokszínűség lenyűgöző a Fraunhofer Tisztaságtechnikai Díj »CLEAN! 2013«-on

2. napján a tisztatéri lounge-ban eljött a pillanat: a három díjazottat a Fraunhofer Tisztaságtechnikai Díjjal „CLEAN! 2013“ tüntették ki. Az első díjat az „MEGAcel NELIOR Szűrőtechnológia“ kapta az AAF-Lufttechnik GmbH-tól. A PTFE-membrán alapú légszűrő közeg rendkívül strapabíró, szinte mentes a k…

Kép 1: A kritikus szennyeződési paraméterek kutatásának szükségességének bemutatása a tisztatéri körülmények között gyártó iparágakban [2].

Kép 2: <strong>Áttekintés a tisztaságra összpontosító piacokról [3].</strong>

Kép 3: Áttekintés a kritikus szennyeződésekről a termékfelületeken.

Kép 4: REM-felvétel egy felületről egy kevert szennyeződésről (filmes és részecskés).

Kép 5: Az termékek tisztasági állapotának érvényesítésére irányuló eljárás.

Kép 6: Áttekintés a lehetséges elemzési módszerekről.

Kép 7: Kritikus részecskeméretek működő alkatrészek és rendszerek számára [6].

Kép 8: Sérült hajtókar (balra) és henger (jobbra). A meghibásodás oka egy tartós befecskendezés volt, amit egy néhány mikrométeres méretű részecske okozott.

Kép 9: Tisztasági elemzés a VDA 19 szerint: Az eljárások áttekintése [7].

Kép 10: Egy lecsengéses mérés tisztasági értékei.

Kép 11: BREM-felvétel egy szennyeződésről egy szűrőmembránon.

Kép 12: A higiéniai elemzés kvantitatív eredményei egy orvostechnikai eszköz esetében.

Kép 13: Az tisztítási validáció lépései.

Kép 14: Küszöbérték meghatározása az automatikus részecskeszámlálás mikroszkópos elemzéséhez.

Kép 15: CO₂ hógép tisztítás (balra), integrálva egy tisztatérbe az ESTEC-nél, Noordwijkben (jobbra).

Kép 16: A CO2-levélfúvó tisztítási hatékonysága egy kiválasztott felületen lévő részecskék esetében

20.12.2012
‌
F+E & Érdekközösség

Reinheitsvalidierung von kontaminationskritischen Produkten

Számos innovatív termék esetében a szennyeződések ellenőrzése alapvető szerepet játszik. Bár a legkorszerűbb tisztatéri technológiát alkalmazzák, a kritikus szennyeződések a tömeggyártásban nem zárhatók ki teljes mértékben. Ezért a szennyezéskritikus termékek tisztaságát folyamatosan figyelemmel kel…

Betekintés a HÍRLEVELEK-be

Jobban tájékozott: ÉVKÖNYV, HÍRLEVÉL, NEWSFLASH, NEWSEXTRA és SZAKÉRTŐI JEGYZÉK

Maradjon naprakész, és iratkozzon fel havi e-mail hírlevelünkre, valamint a NEWSFLASH-ra és a NEWSEXTRA-ra. Emellett nyomtatott ÉVKÖNYVÜNKBŐL is tájékozódhat arról, mi történik a tisztaterek világában. És jegyzékünkből megtudhatja, kik a tisztatér SZAKÉRTŐI.