Nieuw jaar, nieuwe baan? Bekijk de aanbiedingen! meer ...

Alle publicaties van Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA

Afbeelding 1: Partikels die op een filtermembraan zijn geëxtraheerd tijdens de test van een automobielonderdeel (links) en enkele kritische partikels (rechts)

Afbeelding 2: Spectrum van verschillende automobielonderdelen

Figuur 3: Componenten van een reinheidsanalyse (links) volgens VDA 19 (rechts)

Afbeelding 4: Voorbeeld van een extractie met behulp van spuiten

Figuur 5: Informatie-inhoud van verschillende analysemethoden

Afbeelding 6: Analysefilter (boven) en evaluatie van een kwalificatieonderzoek (onder)

Afbeelding 7: Invloedfactoren op de montagekwaliteit (links) volgens VDA 19.2 (rechts)

Figuur 8: Principe van de tape-liftmethode (links) en het verzamelen van deeltjes met sedimentatievallen (rechts)

Afbeelding 9: Spectrum van verschillende medische technologieproducten

Figuur 10: Partikelanalyse onder cleanroomomstandigheden

Afbeelding 11: Bepaling van de reinigingsprestatie van reinigingsmethoden voor latere vergelijking

Figuur 12: Thematische Schwerpunkte der Überarbeitung des VDA 19

Afbeelding 13: Opleidingsprogramma voor inspecteur en planner voor technische netheid

28.06.2013
‌
F+E & Belangenvereniging

Technische Reinheit: Bestimmung der partikularen Reinheit - von der Automobilindustrie bis zur Medizintechnik

1. Eisen aan de partikulaire zuiverheid

Bij de in de halfgeleiderindustrie geproduceerde geïntegreerde schakelingen met structuurbreedtes van momenteel tot 22 nm, wordt het hoge niveau van vereiste partikulaire zuiverheid direct duidelijk. De partikulaire zuiverheid, dus het afwezigheid van kritische…

Hamilton Microlab Star in ISO 1 cleanroom van Fraunhofer IPA

Hamilton Microlab Star in ISO 1 Cleanroom van Fraunhofer IPA. Beeldbron: Fraunhofer IPA

Hamilton Microlab Star in ISO 1 Reinraum des Fraunhofer IPA während einer Strömungsvisualisierung. Bildquelle: Fraunhofer IPA

Hamilton Microlab Star in de ISO 1 cleanroom van Fraunhofer IPA tijdens een stromingsvisualisatie. Beeldbron: Fraunhofer IPA

Uitgelegde PCA-sedimentatieplaten voor het meten van gesedimenteerde micro-organismen in een Hamilton Microlab Star. Beeldbron: Fraunhofer IPA

Uitgelegde silicium-wafers voor het meten van sedimentaire deeltjes in een Hamilton Microlab Star. Beeldbron: Fraunhofer IPA

17.05.2013
‌
F+E & Belangenvereniging

Geschiktheidsprüfung van een pipetteerrobot voor de steriele productie

Inhoud:
1       Inleiding
2       Afleiding van de noodzakelijke testen
3       Uitgevoerde testen
3.1      Meting van de partikulaire luchtzuiverheid op kritieke controlepunten
3.2      Stromingsvisualisatie
3.3      Media Fill simulatie
3.4      Meting van het contaminatierisico op productniveau
3.4.1    Microbiologisch…

Clean2013-NELIOR / AAF-Luchttechniek GmbH

Clean2013-NELIOR-Robustheid / AAF-Luchttechniek GmbH

mosaix_stitchedimage_particleanalyzer_1 / Carl Zeiss Microscopy GmbH

onbekend_metalen_deeltjes_analysator_2 / Carl Zeiss Microscopy GmbH

corrmic_particle_unknown / Carl Zeiss Microscopy GmbH

MAS-100 ISO NT Continuous zonder petrischaal / MBV AG

MAS-100 ISO NT CM met tafel en petrischaal / MBV AG

08.02.2013
‌
F+E & Belangenvereniging

Luchtfiltermedium, »Correlative Particle Analyzer« en een meetinstrument voor biologische luchtbelasting overtuigen de jury

Interdisciplinaire veelzijdigheid schittert bij de Fraunhofer Reinheitstechnik-Preis »CLEAN! 2013«

Op de 2e dag van de Reinraum Lounge was het zover: de drie prijswinnaars werden geëerd voor hun bijdragen met de Fraunhofer Reinheidstechnik-Preis »CLEAN! 2013«. De 1e prijs ging naar »MEGAcel met NELIOR Filtration Technology« van AAF-Lufttechnik GmbH. Zijn luchtfiltermedium op basis van een PTFE-me…

Afbeelding 1: Weergave van de behoefte aan onderzoek naar kritische contaminatieparameters in de productie-industrie onder cleanroomomstandigheden [2].

Afbeelding 2: Overzicht van markten die in de productie inzetten op zuiverheid [3].

Afbeelding 3: Overzicht van kritische besmettingen op productoppervlakken.

Afbeelding 4: REM-opname van een oppervlak met een gemengde besmetting (filmisch en partikelachtig).

Afbeelding 5: Procedure voor het valideren van de zuiverheidsstatus van producten.

Afbeelding 6: Overzicht van mogelijke analysemethoden.

Afbeelding 7: Kritische deeltjesgroottes voor functiedelen en -systemen [6].

Afbeelding 8: Beschadigde drijfstang (links) en cilinder (rechts). De oorzaak van het falen was een voortdurende inspuiting veroorzaakt door een deeltje in de grootte van enkele micrometers.

Afbeelding 9: Schoonmaakanalyse volgens VDA 19: Overzicht van de procedures [7].

Afbeelding 10: Schoonheidswaarden van een afname-metingen.

Afbeelding 11: BREM-opname van een verontreiniging op een filtermembraan.

Afbeelding 12: Kwantitatieve resultaten van de netheidanalyse van een medisch hulpmiddel.

Figuur 13: Aanpak voor reinigingsvalidatie.

Afbeelding 14: Instellen van een drempelwaarde voor de microscopische analyse van een geautomatiseerde deeltjestelling.

Afbeelding 15: CO2-sneeuwreiniging (links), geïntegreerd in een cleanroom bij ESTEC, Noordwijk (rechts).

Afbeelding 16: Reinigingsefficiëntie van het CO2-schneestralen reinigingsproces voor deeltjes op een geselecteerd oppervlak

20.12.2012
‌
F+E & Belangenvereniging

Reinheitsvalidierung von kontaminationskritischen Produkten

Bij een groot aantal innovatieve producten speelt de controle van contaminaties een essentiële rol. Ondanks het gebruik van de modernste cleanroomtechnologie kunnen kritische contaminaties in de massaproductie niet volledig worden uitgesloten. Daarom moet de reinheid van de contaminatiekritische pro…

Een blik in de NIEUWSBRIEF

Beter geïnformeerd: Met het JAARBOEK, de NIEUWSBRIEF, NEWSFLASH, NEWSEXTRA en de EXPERTENGIDS

Blijf op de hoogte en abonneer u op onze maandelijkse e-mail NIEUWSBRIEF en NEWSFLASH en NEWSEXTRA. Krijg meer informatie over de reinruimtewereld met ons gedrukte JAARBOEK. En ontdek wie de experts op het gebied van reinruimtes zijn in onze gids.