Új év, új munka? Nézze meg az ajánlatokat! Több ...
PMS Becker ClearClean Hydroflex

reinraum online


  • Szolgáltatás
  • MI-vel fordítva

APMon - Fejlett Részecskefigyelő Rendszer

Rendszer a részecskeszennyeződés folyamatos monitorozására tisztaterekben az ISO 5 osztályon túl


Ez a rendszer elsőként teszi lehetővé a felületi szennyeződések folyamatos megfigyelését nagy részecskék által. Ez megnyitja az elemzési lehetőségeket olyan tisztaterekben, amelyek meghaladják az ISO 5-ös osztályt, ahol a folyamatos, kivonható részecske-monitoring rendszerek alapvetően nem alkalmazhatók.

Az APMON egy olyan elemző rendszer, amely kifejezetten nagy részecskék (> 20 mikrométer) folyamatos megfigyelésére készült. Ez a felhasználási cél azzal valósult meg, hogy a hagyományos ülepedési táblás mikroszkópos módszert egy teljesen automatikus és folyamatos elemzővé fejlesztették. Konkrétan egy lézeroptikai módszer rögzíti a nagy részecskék ülepedését egy tesztfelületek tömbjén. A részecskék elfoglaltságának változásait regisztrálja, és egy adott időtartam (5 perctől felfelé) végén részecskeszámként és részecskeeloszlásként jeleníti meg az eredményeket.

Az APMON nemcsak a hagyományos monitoring stratégiák kiterjesztését jelenti a nagyobb részecskék felé, hanem egy rendkívül hatékony alternatívát is kínál a manuális és személyzetigényes méréssorozatokkal szemben, amelyek ülepedési táblákat használnak.

Az APMON rendszer egy központi egységből áll, amely adatgyűjtést/-tárolást/-megjelenítést végez, valamint külső szenzorokból, amelyek az ülepedési elemzést végzik. A fizikai csatlakozás Etherneten keresztül történik, vagy (kisebb rendszerek esetén, két szenzorral) akár vezeték nélküli Bluetooth segítségével. Ezért az APMON monitorozó rendszer telepítése rendkívül egyszerű, és máris megérdemli az „plug and play” címet.

  • Elemző rendszer a felületi szennyeződés valós idejű felderítéséhez
    • Különösen nagy részecskék mérésére
    • Részecskeszám és részecskeeloszlás
    • A részecske lerakódási ráta (PDR) meghatározása a következő ISO 14644–3 szerint
    • A részecske lerakódási osztály (PDC) meghatározása az ISO 14644-9 szerint
    • A felületi tisztaság grafikus megjelenítése
    • Kész rendszer – nincs szükség szivattyúkra, mintavételi csövekre vagy egyéb összetett infrastruktúrára
    • A rendszer 6 szenzorig bővíthető minden értékelő egységhez


Jobban tájékozott: ÉVKÖNYV, HÍRLEVÉL, NEWSFLASH, NEWSEXTRA és SZAKÉRTŐI JEGYZÉK

Maradjon naprakész, és iratkozzon fel havi e-mail hírlevelünkre, valamint a NEWSFLASH-ra és a NEWSEXTRA-ra. Emellett nyomtatott ÉVKÖNYVÜNKBŐL is tájékozódhat arról, mi történik a tisztaterek világában. És jegyzékünkből megtudhatja, kik a tisztatér SZAKÉRTŐI.

MT-Messtechnik C-Tec Vaisala Pfennig Reinigungstechnik GmbH