APMon - Zaawansowany System Monitorowania Cząstek

System umożliwia po raz pierwszy ciągłe monitorowanie obciążeń powierzchni dużymi cząstkami.  Otwiera to możliwości analizy w pomieszczeniach czystych powyżej klasy ISO 5, w których systemy monitorowania cząstek wyekstrakcyjnych w sposób ciągły zasadniczo nie mają zastosowania.

APMON to system analityczny specjalnie przeznaczony do ciągłego monitorowania dużych cząstek (> 20 mikrometrów). Ten cel jest możliwy do osiągnięcia dzięki rozwojowi tradycyjnej metody mikroskopii na płytkach sedymentacyjnych w kierunku w pełni automatycznego i ciągłego analizatora. Konkretne, laserowo-optyczne rozwiązanie rejestruje sedymentację dużych cząstek na macierzy powierzchni testowych. Zmiany w liczbie cząstek są rejestrowane  i na końcu określonego okresu czasu (od 5 minut wzwyż) prezentowane jako liczba cząstek i rozkład cząstek.

APMON oznacza nie tylko rozszerzenie konwencjonalnych strategii monitorowania w kierunku większych cząstek, ale jest także wysoce wydajną alternatywą dla ręcznych i pracochłonnych pomiarów na płytkach sedymentacyjnych.

System APMON składa się z jednostki centralnej do zbierania/dobierania/ wizualizacji danych oraz zewnętrznych czujników do analizy sedymentacji. Połączenie fizyczne odbywa się przez Ethernet lub (w mniejszych systemach z dwoma czujnikami) nawet bezprzewodowo za pomocą Bluetooth. Dlatego system monitorowania APMON jest związany z minimalnym nakładem instalacyjnym i może już być określany jako „plug and play”.

• System analityczny do pomiaru kontaminacji powierzchni w czasie rzeczywistym
• Rejestruje w szczególności duże cząstki
• Liczba cząstek i rozkład cząstek
• Określenie wskaźnika osadzania cząstek (PDR) zgodnie z nadchodzącą normą ISO 14644–3
• Określenie klasy osadzania cząstek (PDC) zgodnie z ISO 14644-9
• Graficzne przedstawienie czystości powierzchni
• System gotowy do użycia – nie wymaga pomp, przewodów do pobierania próbek ani innych skomplikowanych infrastruktur
• System skalowalny do 6 czujników na jednostkę oceniającą