Voir plus, comprendre plus rapidement ? Systèmes d'inspection pour un débit maximal

Voir plus, comprendre plus vite ? Systèmes d'inspection pour un débit maximal

Dans l'industrie des semi-conducteurs, l'inspection, le contrôle de processus et l'analyse des défauts des wafers doivent être rapides, fiables et ergonomiques. Avec les microscopes d'inspection Leica DM8000 M et Leica DM12000 M, Leica Microsystems lance une nouvelle gamme de produits qui répond parfaitement à ces exigences. Les nouveaux instruments sont disponibles en option pour l'inspection de wafers de 8 ou 12 pouces.

Une meilleure vue d'ensemble avec le mode macro
Grâce au mode macro intégré, les microscopes d'inspection Leica DM8000 M et DM12000 M offrent une vue jusqu'à quatre fois plus grande de l'échantillon qu'avec un objectif de vue d'ensemble traditionnel. Ainsi, toute la zone peut être rapidement et en toute sécurité contrôlée pour détecter d'éventuels défauts.

Éclairage LED pour un environnement de travail plus propre
Dans le Leica DM8000 M et DM12000 M, l'éclairage LED est intégré dans le trépied. Cela permet une circulation optimale du flux d'air dans la salle blanche autour du microscope, car les boîtiers de lampes sont totalement supprimés. Les LED modernes à puissance offrent également une longue durée de vie avec une faible consommation électrique. Cela permet de réduire les coûts et d'être plus respectueux de l'environnement. L'éclairage UV i-line en option repose également sur la technologie LED.

Résolution maximale sous tous les angles
Le nouveau mode UV oblique combine un éclairage oblique avec la lumière UV i-line. Ainsi, l'échantillon peut être examiné rapidement et facilement sous tous les angles, en 3D et avec la plus haute résolution.

Le confort de travail améliore la qualité
Parce que le confort au travail est une condition préalable à de meilleures performances et, par conséquent, à une meilleure qualité, les éléments fonctionnels ont été conçus selon des normes ergonomiques très strictes. Tous les éléments de commande sont intégrés dans le trépied et facilement accessibles, de sorte que lors du changement, les yeux et les mains n'ont pas besoin d'être retirés du microscope. Avec des tubes ergonimiques et des boutons de mise au point réglables individuellement, le système d'inspection peut être adapté à chaque utilisateur. La fonction Focus-Finder, la mémoire, ainsi que les gestionnaires d'éclairage et de contraste intégrés facilitent la manipulation et aident à éviter les erreurs.

Intégration système : parfaitement coordonnée
Leica Microsystems propose le Leica DM8000 M et DM12000 M en tant que systèmes complets : microscope, caméra et logiciel parfaitement compatibles. De plus, le système peut être complété par un logiciel spécifique d'inspection et de revue. La compatibilité avec des chargeurs de wafers de différents fabricants complète l'offre de systèmes complets.

Image : Plus d'informations en moins de temps : Les nouvelles fonctions optiques du Leica DM8000 M/DM12000 M garantissent une meilleure résolution et un débit plus élevé lors de l'inspection.