Ver más, entender más rápido ? Sistemas de inspección para el máximo rendimiento

Ver más, entender más rápido ? Sistemas de inspección para el máximo rendimiento

En la industria de semiconductores, la inspección, el control de procesos y el análisis de fallos de obleas deben ser rápidos, seguros y ergonómicos. Con los microscopios de inspección Leica DM8000 M y Leica DM12000 M, Leica Microsystems lanza una nueva línea de productos que cumple de manera óptima con estos requisitos. Los nuevos instrumentos están disponibles opcionalmente para la inspección de obleas de 8 o 12 pulgadas.

Mayor visión general con el modo macro
Con el modo macro integrado, los microscopios de inspección Leica DM8000 M y DM12000 M ofrecen hasta cuatro veces más visión general de la muestra en comparación con los objetivos de vista general convencionales. De este modo, se puede escanear rápidamente y con seguridad toda la zona en busca de posibles defectos.

Iluminación LED para un entorno de trabajo más limpio
En el Leica DM8000 M y DM12000 M, la iluminación LED está integrada en el soporte. Así, el flujo de aire en la sala limpia se dirige de manera óptima alrededor del microscopio, ya que los alojamientos de las lámparas se eliminan por completo. Además, las modernas LEDs de potencia tienen una larga vida útil y consumen poca energía. Esto ahorra costes y es más respetuoso con el medio ambiente. La iluminación UV i-line, disponible opcionalmente, también se basa en tecnología LED.

La máxima resolución desde cualquier ángulo
El nuevo modo UV oblicuo combina la iluminación oblicua con luz UV i-line. De este modo, la muestra puede ser observada rápida y fácilmente desde todos los lados, en 3D y con la máxima resolución.

La comodidad en el trabajo aumenta la calidad
Como la comodidad en el trabajo es un requisito para una mayor capacidad y, por tanto, una mejor calidad, los elementos funcionales se han diseñado según los estándares ergonómicos más altos. Todos los controles están integrados en el soporte y son de fácil acceso, de modo que no es necesario retirar los ojos ni las manos del microscopio al cambiar de función. Con brazos ergonómicos ajustables individualmente y perillas de enfoque, el sistema de inspección puede adaptarse a cada usuario. Focus-Finder, función de memoria y los gestores de iluminación y contraste integrados facilitan el manejo y ayudan a evitar errores.

Integración del sistema: perfectamente coordinados
Leica Microsystems ofrece el Leica DM8000 M y DM12000 M como sistemas completos: microscopio, cámara y software están perfectamente coordinados. Además, el sistema puede complementarse con software especializado para inspección y revisión. La compatibilidad con cargadores de obleas de diferentes fabricantes completa la oferta del sistema completo.

Imagen: Más información en menos tiempo: Las nuevas funciones ópticas del Leica DM8000 M/DM12000 M proporcionan mayor resolución y mayor rendimiento en la inspección.