Vedi di più, comprendere più velocemente ? Sistemi di ispezione per il massimo throughput

Vedi di più, comprendere più rapidamente? Sistemi di ispezione per il massimo throughput

Nel settore dei semiconduttori, l'ispezione, il controllo del processo e l'analisi degli errori dei wafer devono essere veloci, affidabili ed ergonomici. Con i microscopi di ispezione Leica DM8000 M e Leica DM12000 M, Leica Microsystems presenta una nuova linea di prodotti che soddisfa ottimamente questi requisiti. I nuovi strumenti sono disponibili opzionalmente per l'ispezione di wafer da 8 o 12 pollici.

Più visibilità con la modalità macro
Con la modalità macro integrata, i microscopi di ispezione Leica DM8000 M e DM12000 M offrono una visuale fino a quattro volte superiore rispetto agli obiettivi di visione generale tradizionali. In questo modo, l'intera area può essere scansionata rapidamente e in modo sicuro alla ricerca di eventuali difetti.

Illuminazione a LED per un ambiente di lavoro più pulito
Nel Leica DM8000 M e DM12000 M, l'illuminazione a LED è integrata nel supporto. In questo modo, il flusso d'aria nel cleanroom viene ottimizzato intorno al microscopio, eliminando completamente le lampade tradizionali. I moderni LED a potenza offrono inoltre una lunga durata di vita con un basso consumo energetico. Ciò riduce i costi ed è più rispettoso dell'ambiente. Anche l'illuminazione UV i-line opzionale si basa sulla tecnologia LED.

La massima risoluzione da ogni angolazione
La nuova modalità obliqua UV combina l'illuminazione obliqua con la luce UV i-line. In questo modo, il campione può essere osservato rapidamente e facilmente da tutti i lati, in 3D e con la massima risoluzione.

Il comfort di lavoro migliora la qualità
Poiché il comfort durante il lavoro è una condizione fondamentale per aumentare le prestazioni e, di conseguenza, la qualità, gli elementi funzionali sono stati progettati secondo i più elevati standard ergonomici. Tutti i comandi sono integrati nel supporto e facilmente accessibili, in modo che occhi e mani non debbano essere rimossi dal microscopio durante la commutazione. Con maniglie ergonomiche e manopole di messa a fuoco regolabili individualmente, il sistema di ispezione può essere adattato a ogni utente. Focus-Finder, funzione di memoria e i gestori integrati di illuminazione e contrasto semplificano l'uso e aiutano a evitare errori.

Integrazione di sistema: perfettamente coordinata
Leica Microsystems offre il Leica DM8000 M e DM12000 M come sistemi completi: microscopio, telecamera e software sono perfettamente integrati tra loro. Inoltre, il sistema può essere arricchito con software specifico per ispezioni e revisioni. La compatibilità con caricatori di wafer di diversi produttori completa l'offerta del sistema completo.

Immagine: Più informazioni in meno tempo: le nuove funzioni ottiche del Leica DM8000 M/DM12000 M garantiscono una maggiore risoluzione e un throughput superiore durante l'ispezione.