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Le changeur de plate de dépôt compact n'est pas seulement disponible pour les machines Syntegon, mais aussi pour toutes les marques, types et commandes de machines. Le nouveau Changeur de Plaques de Décantation breveté SPC de Syntegon automatise la surveillance microbienne et réduit au minimum les interruptions de production ainsi que l'intervention humaine dans la zone de processus. Dans le contexte de l'annexe 1 du GMP de l'UE, la surveillance des salles blanches a encore gagné en importance. / La surveillance environnementale est devenue encore plus importante dans le cadre de l'annexe 1 du GMP de l'UE.
  • Produits, appareils, systèmes, installations pour applications

Lancement sur le marché d'Achema : nouveau changeur de plaques de fixation de Syntegon pour la surveillance automatisée du nombre de germes

— Syntegon lance une nouvelle innovation brevetée pour l'industrie pharmaceutique
— Conformité à l'annexe 1 en priorité : réduction des risques de contamination et des interventions manuelles dans le processus de remplissage aseptique
— Intégration fluide et durable dans les installations neuves et ex…

La nouvelle construction avec vues extérieures et intérieures. (Copyright : InfraTec)
  • Construction neuve

Bureaux modernes et zones de production et de développement spacieuses créent de l'espace pour l'innovation

La nouvelle construction d'InfraTec est terminée

En avril 2024, cela a enfin été réalisé ! La extension du bâtiment de InfraTec GmbH infrarouge et de la technique de mesure a été achevée après moins de 2,5 ans de construction. Avec l'installation dans le nouveau bâtiment, les employés d'InfraTec disposent non seulement de bureaux spacieux et clima…

Figure 1 – Composants CMOS CFET avec MDI et contacts structurés empilés en façade (TC = contact supérieur ; TJ = jonction supérieure ; BC = contact inférieur ; BJ = jonction inférieure). Des coupes transversales SEM sont présentées le long (à gauche) et à travers (à droite) du BC/TC. Figure 2 – Courbes Id/Vg pour nFET et pFET avec contacts empilés en façade. Figure 3 – Photo SEM montrant les contacts inférieurs formés à l'arrière du wafer et positionnés avec précision au-dessus de la jonction inférieure formée à l'avant (BDI = isolation diélectrique inférieure).
  • Électronique (wafers, semi-conducteurs, microprocesseurs,...)

Imec démontre des composants CFET monolithiques fonctionnels avec des contacts inférieurs et supérieurs empilés

Cette semaine, imec, un centre mondial de recherche et d'innovation de premier plan dans le domaine de la nanoélectronique et des technologies numériques, présente pour la première fois lors du symposium IEEE 2024 sur la technologie et les circuits VLSI (2024 VLSI) des composants CMOS-CFET fonctionn…

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