Leica DCM8 ötvözi a nagy felbontású konfokális mikroszkópia és az interferometria előnyeit egy készülékben
Leica Microsystems bemutatja a 3D felületmérés megoldását
Leica Microsystems bemutatta a Leica DCM8-at a károsodásmentes háromdimenziós felületméréshez. Mint kombinált konfokális és interferometrikus optikai profilométer, a készülék ötvözi mindkét technológia előnyeit: nagy felbontású konfokális mikroszkópiát a magas laterális felbontásért, valamint interf…








