Új év, új munka? Nézze meg az ajánlatokat! Több ...
Systec & Solutions GmbH PMS Piepenbrock Hydroflex

reinraum online


Összes publikáció: Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS

300 mm-es Reinraum des Fraunhofer IPMS. © Fraunhofer IPMS / 300 mm-es Reinraum am Fraunhofer IPMS. © Fraunhofer IPMS Luftbildaufnahme von Infineon Dresden. © Infineon Technologies AG / Légifotó Infineon Dresdenről. © Infineon Technologies AG „Okos-energia technológiák” végfelhasználói alkalmazásokban. © Infineon Technologies AG / „Okos energia technológiák” végfelhasználói alkalmazásokban. © Infineon Technologies AG
  • A jövő mobilitása

Intelligens energia menedzsment a jövőért

Fraunhofer IPMS támogatja a 300 mm-es folyamatfejlesztést a Smart-Power-technológiák terén az Infineon félvezetőgyártónál, Drezdában.

Egy körülbelül egyéves közös fejlesztési projekt során fontos előrelépéseket értek el az „Okos-energia-technológiák” gyártásában. Ebben a Fraunhofer IPMS jelentősen támogatta az félvezetőgyártót, az Infineont, azáltal, hogy kiválasztott folyamatmodulokat biztosított az egész CMOS-folyamatértékláncban, 300 mm-es szilíciumlapokra.

A e…

Egyedi OFET-alaplapok a Fraunhofer IPMS-től. © Fraunhofer IPMS / Vágott OFET-alaplapok a Fraunhofer IPMS-től. © Fraunhofer IPMS OFET-Substrat des Fraunhofer IPMS als Wafer. © Fraunhofer IPMS / OFET-Substrate vom Fraunhofer IPMS als Wafer. © Fraunhofer IPMS OFET-alapanyag a Fraunhofer IPMS-től a Waffle-Pack-ben. © Fraunhofer IPMS / OFET-alapanyagok a Fraunhofer IPMS-től egy Waffle-Pack-ben. © Fraunhofer IPMS
  • Elektronika (wafer, félvezető, mikrochipek,...)

Szubstrátum organikus mezőfeszültség-transzisztorokhoz (OFET) magas technológiai anyagok fejlesztéséhez

Egyedi szilícium-chipek Szászországból az anyagtulajdonságok jellemzésére nyomtatott elektronika számára

Milyen teljesítményűek az új anyagok? Egy anyagtulajdonságok változása vezet jobb vezetőképességhez? A Fraunhofer Fotonikai Mikroszisztémák Intézetében (IPMS) kifejlesztett és gyártott szilícium-alapú hordozók segítségével lehetőség nyílik az alapvető elektromos anyagtulajd…

eBeam-metrológiai eszközök az Applied Materials-től a Fraunhofer IPMS tisztatérben. © Fraunhofer IPMS / Applied Materials eBeam metrológiai berendezése a Fraunhofer IPMS tisztatérben. © Fraunhofer IPMS
  • Elektronika (wafer, félvezető, mikrochipek,...)

Új európai technológiai központ a félvezető mérés területén Drezdában

Applied Materials és a Fraunhofer IPMS technológiai központot alapít a félvezető mérési technológiák számára

– Az új központ a legmodernebb metrológiai rendszereket fogja biztosítani, hogy előmozdítsa a félvezető kutatást és támogassa a fejlesztési projekteket chipgyártókkal és iparági partnerekkel egész Európában, különösen az ICAPS*-szegmensekben

– Együttműködés a tanulási folyamat felgyorsítása, új módszerek fejlesz…

Jobban tájékozott: ÉVKÖNYV, HÍRLEVÉL, NEWSFLASH, NEWSEXTRA és SZAKÉRTŐI JEGYZÉK

Maradjon naprakész, és iratkozzon fel havi e-mail hírlevelünkre, valamint a NEWSFLASH-ra és a NEWSEXTRA-ra. Emellett nyomtatott ÉVKÖNYVÜNKBŐL is tájékozódhat arról, mi történik a tisztaterek világában. És jegyzékünkből megtudhatja, kik a tisztatér SZAKÉRTŐI.

C-Tec ClearClean MT-Messtechnik HJM