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Tutte le pubblicazioni di Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS

Foto di un substrato di prova con struttura di riscaldamento del Fraunhofer IPMS. © Fraunhofer IPMS / Foto di un substrato di prova con struttura di riscaldamento del Fraunhofer IPMS. © Fraunhofer IPMS Esempio di immagine termica di un substrato di prova riscaldato tenuto da una ventosa a vuoto del Fraunhofer IPMS. © Fraunhofer IPMS / Example thermal image of a heated test substrate held by a vacuum suction cup from Fraunhofer IPMS. © Fraunhofer IPMS Foto di substrati di prova, a sinistra uno con struttura riscaldante, confrontato in dimensioni con una moneta da un euro. © Fraunhofer IPMS / Photo of test substrate, left with heating structure, compared in size to a Euro cent coin. © Fraunhofer IPMS
  • Scienza

Caratterizzazione dei materiali di ossidi metallici e materiali organici

Gli sviluppatori di sensori di gas a strato sottile beneficiano di piattaforme con substrato riscaldato

Il Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS sviluppa e produce chip di prova personalizzati riscaldabili per la caratterizzazione di nuovi materiali per la gas-sensoristica. Su di essi vengono depositate strati sensoriali e i relativi parametri applicativi, come sensibilità e selettivit…

Camera pulita di 300 mm del Fraunhofer IPMS. © Fraunhofer IPMS / Camera pulita di 300 mm presso il Fraunhofer IPMS. © Fraunhofer IPMS Ripresa aerea di Infineon Dresden. © Infineon Technologies AG / Vista aerea di Infineon Dresden. © Infineon Technologies AG
  • Mobilità del futuro

Gestione intelligente dell'energia per il futuro

Fraunhofer IPMS supporta lo sviluppo del processo da 300 mm nelle tecnologie Smart-Power per il produttore di semiconduttori Infineon a Dresda

In un progetto di sviluppo congiunto di circa un anno sono stati ottenuti importanti progressi nella produzione di «Smart-Power-Technologien». In questo ambito, il Fraunhofer IPMS ha supportato in modo sostanziale il produttore di semiconduttori Infineon fornendo moduli di processo selezionati lungo…

Alcuni substrati OFET del Fraunhofer IPMS. © Fraunhofer IPMS / Substrati OFET tagliati dal Fraunhofer IPMS. © Fraunhofer IPMS Sottostrato OFET del Fraunhofer IPMS come wafer. © Fraunhofer IPMS / Sottostrati OFET del Fraunhofer IPMS come wafer. © Fraunhofer IPMS Sottostrato OFET del Fraunhofer IPMS in confezione a waffle. © Fraunhofer IPMS / Sottostrati OFET del Fraunhofer IPMS in confezione a waffle. © Fraunhofer IPMS
  • Elettronica (wafer, semiconduttori, microchip,...)

Sottostrato per transistor a effetto campo organici (OFET) per lo sviluppo di materiali high-tech

Chip di silicio individuali dalla Sassonia per la caratterizzazione dei materiali per l'elettronica stampata

Quanto sono performanti i nuovi materiali? Un cambiamento delle proprietà porta a una migliore conduttività? All'Istituto Fraunhofer per i Sistemi Fotonici IPMS vengono sviluppati e prodotti substrati in silicio appositamente progettati per questo scopo. Ciò consente una caratterizzazione elettrica…

Transistore a effetto di campo sensibile agli ioni (ISFET) del Fraunhofer IPMS. © Fraunhofer IPMS / Chip sensore ISFET del Fraunhofer IPMS. © Fraunhofer IPMS Rappresentazione semplificata di un ISFET con un elettrodo di riferimento Ag / AgCl. © Fraunhofer IPMS / Simplified illustration of an ISFET with an Ag / AgCl reference electrode. © Fraunhofer IPMS
  • Sistemi

Nuovo sviluppo per la misurazione del pH presso il Fraunhofer IPMS

Innovazione nella sensoristica: Nuova sviluppo di uno strato sensore di pH integrato con successo in ISFET

Il Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS annuncia un progresso significativo nell'analisi chimica e biochimica. Il team guidato dal responsabile del settore per i sensori chimici, Dr. Olaf R. Hild, ha sviluppato con successo un rivestimento sensore innovativo per la misurazione del p…

Apparecchiature di metrologia eBeam di Applied Materials nel cleanroom del Fraunhofer IPMS. © Fraunhofer IPMS / Apparecchiature di metrologia eBeam di Applied Materials nel cleanroom del Fraunhofer IPMS. © Fraunhofer IPMS
  • Elettronica (wafer, semiconduttori, microchip,...)

Nuovo Centro Europeo di Tecnologia per la Misurazione dei Semiconduttori a Dresda

Applied Materials e Fraunhofer IPMS fondano il centro tecnologico per la misurazione dei semiconduttori

– Il nuovo centro metterà a disposizione sistemi di metrologia all'avanguardia per avanzare nella ricerca sui semiconduttori e supportare progetti di sviluppo con produttori di chip e partner del settore in tutta Europa, in particolare nei segmenti di mercato ICAPS*

– Collaborazione per accelerare il…

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