Leica DCM8 combina las ventajas de la microscopía confocal de alta resolución y la interferometría en un solo dispositivo
Leica Microsystems presenta solución para mediciones de superficies 3D
Leica Microsystems ha lanzado el Leica DCM8 para mediciones de superficie tridimensionales sin destrucción. Como perfilómetro óptico combinado de confocal y interferometría, el dispositivo combina las ventajas de ambas tecnologías: microscopía confocal de alta resolución para una alta resolución lat…








