Leica DCM8 łączy zalety wysokorozdzielczej mikroskopii konfokalnej i interferometrii w jednym urządzeniu
Leica Microsystems przedstawia rozwiązanie do pomiarów powierzchni 3D
Leica Microsystems wprowadziła na rynek Leica DCM8 do nieniszczących trójwymiarowych pomiarów powierzchni. Jako połączony konfokalny i interferometryczny profilometr optyczny, urządzenie łączy zalety obu technologii: wysokorozdzielczą konfokalną mikroskopię dla dużej rozdzielczości przestrzennej ora…








