Leica DCM8 combineert de voordelen van hoogwaardig confocale microscopie en interferometrie in één apparaat
Leica Microsystems presenteert oplossing voor 3D-oppervlaktemetingen
Leica Microsystems heeft de Leica DCM8 op de markt gebracht voor niet-destructieve driedimensionale oppervlaktemetingen. Als gecombineerde confocale en interferometrische optische profilometer combineert het apparaat de voordelen van beide technologieën: hoogwaardig resolutie confocale microscopie v…








