Magas pontosságú inline mérés vékony rétegeken

Az interferoMETER IMS5200-TH sorozat új fehér fény interferométerei nanométeres pontossággal mérik a rétegvastagságokat 1-től 100 mikrométerig. A legfeljebb 24 kHz-es mérési sebességgel az új fehér fény interferométerek dinamikus mérési feladatokra alkalmasak a félvezetőgyárt�…

Betekintés a HÍRLEVELEK-be

Jobban tájékozott: ÉVKÖNYV, HÍRLEVÉL, NEWSFLASH, NEWSEXTRA és SZAKÉRTŐI JEGYZÉK

Maradjon naprakész, és iratkozzon fel havi e-mail hírlevelünkre, valamint a NEWSFLASH-ra és a NEWSEXTRA-ra. Emellett nyomtatott ÉVKÖNYVÜNKBŐL is tájékozódhat arról, mi történik a tisztaterek világában. És jegyzékünkből megtudhatja, kik a tisztatér SZAKÉRTŐI.