A makroszkóptól a mikroszkópig – egyedi tisztaság-elemzés a Leica Application Suite (LAS) Cleanliness Expert segítségével, most kibővített felhasználási lehetőségekkel

A Leica DMS300 Cleanliness Expert mikroszkóprendszer lehetővé teszi a legkisebb részecskék hossz- és szélességmérését akár 20 mikrométeres méretig, valamint a reflexív és nem reflexív részecskék közötti megkülönböztetést.

Leica Microsystems által fejlesztett Leica Application Suite (LAS) Cleanliness Expert szoftvermodul mostantól szélesebb körben elérhető különböző mikroszkópokhoz. Ez lehetővé teszi egy bővített felhasználói kör számára, hogy a gép által nyújtott pontos mérési eredményekből profitáljanak, amelyek ipari alkalmazásokhoz szükségesek. A Leica Cleanliness Expert végzi a maradék szennyeződés meghatározását, ahogyan például az az autóiparban is szükséges. A felhasználók hossz-, szélesség- és magasságméréseket végezhetnek részecskéken, és megkülönböztethetik a visszatükröződő és nem visszatükröződő részecskéket. A szoftver része a mérési eredmények dokumentálása is, amelyek teljes mértékben reprodukálhatók. Mivel az ilyen részletes mérések nem mindig szükségesek a tisztaság elemzéséhez, a vállalat a Leica Cleanliness Expert-et különböző további igényekhez igazította.

A szennyeződés mértékének meghatározásához hidraulikus folyadékok esetében az ISO 4406 szerint a Leica DM2700 M, Leica DM4000 M LED és Leica DM6000 M mikroszkópok a legalkalmasabbak. A különböző méretű részecskék, például az ISO 16232 szerint történő mérés és számlálás esetén a Leica DM2700 M, Leica DM4000 M LED, Leica DM6000 M rendszerek, valamint a digitális mikroszkóp rendszerek, a Leica DMS300 Cleanliness Expert és a Leica DMS1000 Cleanliness Expert kerülnek alkalmazásra. Olyan vizsgálatokhoz, amelyeknél nem befolyásolja a felhasználó, és ahol elengedhetetlen a reprodukálható megvilágítás a mérési eredmények összehasonlíthatósága érdekében, ajánlott a Leica DM4000 M LED vagy a Leica DM6000 M.

„A Leica Cleanliness Expert felhasználói értékelik a felhasználóbarát kezelőfelületet, a reflektáló és nem reflektáló részecskék megkülönböztetésére szolgáló algoritmust, a részecskék hosszának, szélességének és magasságának mérését, valamint az eredmények átláthatóságát” – magyarázza Dr. Kay Scheffler, a Leica Microsystems termékmenedzsere. „Örömmel jelentjük be, hogy a Leica Cleanliness Expert mostantól szélesebb körben elérhető a felhasználók számára.”