Dalla macro alla micro - analisi della pulizia su misura Leica Application Suite (LAS) Cleanliness Expert ora con potenzialità di impiego ampliate

Il sistema microscopico Leica DMS300 Cleanliness Expert consente di misurare lunghezza e larghezza di particelle di dimensioni fino a 20 micrometri e di distinguere tra particelle riflettenti e non riflettenti.

Il modulo software Leica Application Suite (LAS) Cleanliness Expert di Leica Microsystems è ora disponibile per una gamma più ampia di microscopi. Ciò consente a un numero maggiore di utenti di beneficiare di misurazioni precise, che il dispositivo offre per applicazioni industriali, con un più ampio spettro di requisiti. Il Leica Cleanliness Expert esegue analisi di residui di sporco, come richiesto ad esempio nell'industria automobilistica. Gli utenti possono effettuare misurazioni di lunghezza, larghezza e altezza di particelle e distinguere tra particelle riflettenti e non riflettenti. Tra le funzionalità del software vi è anche la documentazione dei risultati, che sono completamente riproducibili. Poiché tali analisi dettagliate non sono sempre necessarie per l'analisi della pulizia, l'azienda ha adattato il Leica Cleanliness Expert a diverse esigenze aggiuntive.

Per la determinazione del grado di contaminazione nei fluidi idraulici secondo ISO 4406, sono particolarmente adatti i microscopi Leica DM2700 M, Leica DM4000 M LED e Leica DM6000 M. Per la misurazione e il conteggio di particelle di diverse dimensioni, come richiesto ad esempio secondo ISO 16232, vengono utilizzati i sistemi Leica DM2700 M, Leica DM4000 M LED, Leica DM6000 M, nonché i sistemi di microscopi digitali Leica DMS300 Cleanliness Expert e Leica DMS1000 Cleanliness Expert. Per indagini senza influenza dell'utente, in cui sono indispensabili impostazioni di illuminazione riproducibili per la comparabilità delle misurazioni, si consiglia il Leica DM4000 M LED o il Leica DM6000 M.

„Gli utenti del Leica Cleanliness Expert apprezzano l'interfaccia utente intuitiva, l'algoritmo per distinguere tra particelle riflettenti e non riflettenti, la misurazione di lunghezza, larghezza e altezza delle particelle, che spesso hanno forme non uniformi, e la trasparenza dei risultati”, spiega il Dr. Kay Scheffler, product manager di Leica Microsystems. „Siamo lieti di poter offrire ora il Leica Cleanliness Expert a un pubblico più ampio.“