Les microscopes IXplore IX85 SpinXL et SpinSR élargissent les possibilités de recherche grâce à des technologies de pointe pour la visualisation de processus dynamiques rapides dans les cellules.

EVIDENT présente deux nouveaux microscopes confocaux à disque tournant

Evident annonce le lancement de deux nouveaux microscopes confocaux à disque tournant : IXplore IX85 SpinXL et IXplore IX85 SpinSR. IX85 SpinXL et IX85 SpinSR sont basés sur le nouveau système de microscope inversé automatisé IXplore IX85 d'Evident et complètent la plateforme avec une technolo…

10.03.2025
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Configuration

Système de microscope inversé automatique avec une vitesse, une clarté et une fiabilité exceptionnelles

EVIDENT annonce la libération du nouveau IXplore™ IX85

Récemment, Evident a annoncé le lancement sur le marché du système de microscopie inversée automatique IXplore™ IX85. Grâce à une distance de champ (FN) de 26,5 mm, leader dans l'industrie, et à de nouveaux outils d'imagerie garantissant des résultats clairs et précis, les chercheurs peu…

<figure>Abbildung 2: OLYMPUS CIX100 – Solution système basée sur un microscope pour la propreté technique.</figure>

Figure 3 : Pour préparer l'analyse suivante, une membrane filtrante est séchée.

Figure 4 : Support d'échantillons rond avec fond blanc et noir pour membranes filtrantes de diamètres de 25 mm (à gauche), 47 mm (au centre) et 55 mm (à droite).

Figure 5 : Positionnement de la membrane filtrante pour la filtration de l'échantillon à étudier (a) ; Montage de la membrane filtrante sur le porte-échantillon (b).

Figure 6.a : Montage du ruban adhésif avec les particules adhérentes sur le porte-échantillon spécial pour une analyse ultérieure

Figure 6.b : Le logiciel du système OLYMPUS CIX100 permet l'analyse des particules d'un échantillon de ruban adhésif après la détection d'une zone d'inspection rectangulaire.

Figure 7.a : Préparation d'une piège à particules

Figure 7.b : Le logiciel du système OLYMPUS CIX100 analyse une piège à particules conformément à la norme VDA 19.2.

Figure 1 : Support d'échantillons OLYMPUS CIX100 spécialement conçu pour différents types d'échantillons :
a et b) Supports de filtres avec fond blanc et noir - disponibles en trois tailles différentes, c) Support pour pièges à particules et d) Support pour ruban adhésif.

Figure 1 : Supports d'échantillons OLYMPUS CIX100 spécialement conçus pour différents types d'échantillons :
a et b) Supports pour filtres avec fond blanc et noir - disponibles en trois tailles différentes, c) Support pour pièges à particules et d) Support pour ruban adhésif.

03.10.2024
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Particule

Aperçu des techniques courantes de prélèvement d'échantillons dans le cadre des contrôles de propreté technique

Vue d'ensemble des techniques courantes de prélèvement d'échantillons dans le cadre des contrôles de propreté technique

Les produits techniques dans presque tous les secteurs nécessitent un certain niveau de propreté. Les contaminations par des particules indésirables et des résidus dans les installat…

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