Mehr sehen, schneller verstehen ? Inspektionssysteme für höchsten Durchsatz
In der Halbleiterindustrie muss die Inspektion, Prozesskontrolle und Fehleranalyse von Wafern schnell, sicher und ergonomisch sein. Mit den Inspektionsmikroskopen Leica DM8000 M und Leica DM12000 M bringt Leica Microsystems eine neue Produktlinie auf den Markt, die diese Anforderungen optimal erfüll…








