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Il prober on-wafer criogenico presso il Fraunhofer IAF effettua in modo completamente automatico la caratterizzazione di fino a 25 wafer interi da 200 mm o 300 mm con dispositivi per il calcolo e la rilevazione quantistica. © Fraunhofer IAF / The cryogenic on-wafer prober at Fraunhofer IAF enables fully automatic characterizations of up to 25 whole 200-mm or 300-mm wafers with devices for quantum computing and sensing. © Fraunhofer IAF Sguardo nella camera principale con un wafer da 200 mm al centro sul chuck, che viene mosso sotto la scheda di prova. Il sistema sta testando un wafer del progetto »QUASAR«, in cui i ricercatori stanno sviluppando transistor a singolo elettrone (SET) basati su pozzi quantici di silicio da utilizzare come dispositivo per i qubit di spin. © Fraunhofer IAF / Vista nella camera principale con un wafer da 200 mm al centro sul chuck che viene spostato sotto la scheda di prova. Il sistema sta testando un wafer del progetto QUASAR, in cui i ricercatori stanno sviluppando transistor a singolo elettrone (SET) basati su pozzi quantici di silicio da utilizzare come dispositivo per i qubit di spin. © Fraunhofer IAF 1-K-cryostat con linee condotte per misure in corrente continua e ad alta frequenza. © Fraunhofer IAF / 1 K cryostat con linee condotte per misure in corrente continua e ad alta frequenza. © Fraunhofer IAF
  • Scienza

Progetto »KryoproPlus« completato con successo

Prober criogenico on-wafer determina la qualità dei componenti qubit per il calcolo quantistico e la sensoristica quantistica

La prima installazione criogenica in Germania per la misurazione statistica della qualità dei componenti di Qubit su wafer da 200 e 300 mm presso il Fraunhofer IAF ha iniziato il suo funzionamento. Il sonda on-wafer può caratterizzare componenti basati su punti quantici di semiconduttori e punti q…

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