Vedi di più, comprendere più velocemente ? Sistemi di ispezione per il massimo throughput
Nel settore dei semiconduttori, l'ispezione, il controllo del processo e l'analisi degli errori dei wafer devono essere veloci, affidabili ed ergonomici. Con i microscopi di ispezione Leica DM8000 M e Leica DM12000 M, Leica Microsystems presenta una nuova linea di prodotti che soddisfa ottimamente q…








