Leica Microsystems egy precíziós szkennertasztalt dob piacra sztereomikroszkópok és makroszkópok számára

Magas precizitással végzett munka: Leica M205 FA átlátszó fény alap Leica TL5000 Ergo és Leica LMT260 XY szkennertábla

A Leica Microsystems egy precíziós szkennerasztalt dob piacra sztereomikroszkópok és makroszkópok számára, a Leica LMT260 XY-szkennerasztalt. Az eredményes kísérletek érdekében 0,25 µm ismétlési pontosságot kínál 0,5 kg alatti súlyok esetén, és 1 µm-t 1,5 kg-os terhelésnél. Ezt az ismétlési pontosságot 5 nm felbontás mellett éri el. Az ilyen magas precizitás különösen azok számára érdekes, akik időalapú kísérleteket végeznek, mint például Mark-and-Find-kísérletek vagy multi-well szűrések.

„Tudjuk, hogy minden mikrométer számít, amikor több mintát szűrünk különböző pozíciókban az X- és Y-tengelyeken,” mondja Dr. Björn Fuchs, a Leica Microsystems termékmenedzsere. „A Leica LMT260 XY-szkennerasztal kiválóan alkalmas időalapú kísérletekre, de nagyobb tárgypályák nagy felbontású szkennelésére is. A szoftver több rácsra osztja a mintát. Ezeket a rácsokat pontosan a asztal mozgatja.” A Leica Application Suite (LAS) Multistep modulja vagy a LAS Advanced Fluorescence Tile Scan modulja ezután összefűzi a kamera által felvett számos képet egy nagy felbontású képpé.

Az, hogy pontos és reprodukálható eredményeket érjünk el sztereomikroszkópokkal, a Leica LMT260 XY-szkennerasztal mágneses ellenállásos mérőrendszert és két lineáris motort használ. A motorok gyorsan és csendesen mozgatják az asztalt, de a felhasználók bármikor kézzel is mozgathatják azt. Mivel a pozíció meghatározása mindig abszolút módon történik, az inicializáláskor nincs szükség referenciapont beállítására bekapcsoláskor. Így a felhasználók teljes mértékben a munkájukra koncentrálhatnak.