Komplett rendszer az felület elemzéséhez
Új Weitfeld-konfokális mikroszkóp ZEISS Smartproof 5 ipari alkalmazásokhoz
Az új Weitfeld-konfokális mikroszkóp ZEISS Smartproof 5 széles körű ipari alkalmazásokhoz készült minőségbiztosítási és minőségellenőrzési osztályokon, gyártási környezetekben és kutatás-fejlesztési laboratóriumokban. A mikroszkóprendszer 3D rekonstrukciókat és felületi érdességméréseket készít külö…








