¿Año nuevo, trabajo nuevo? ¡Echa un vistazo a las ofertas! más ...
Piepenbrock Systec & Solutions GmbH Becker MT-Messtechnik

cleanroom online


Todas las publicaciones de la rúbrica Conocimientos, Instituto

Vera de 4 pulgadas de GaN sobre obleas de SiC de la tecnología GaN07 del Fraunhofer IAF. Las obleas se fabrican y prueban completamente en la línea de semiconductores interna de la institución, incluyendo diseño, epitaxia, procesamiento de obleas y caracterización. © Fraunhofer IAF / Oblea de 4 pulgadas de GaN sobre SiC procesada por la parte frontal de la tecnología GaN07 del Fraunhofer IAF. Las obleas se fabrican y prueban completamente en la línea de procesos III-V del Fraunhofer IAF, incluyendo el diseño y la fabricación de conjuntos de máscaras de procesamiento, epitaxia, procesamiento de obleas y caracterización. © Fraunhofer IAF
  • Conocimientos, Instituto

EuMW 2025: Fraunhofer IAF presenta transistor GaN de 70 nm para satélites de alto rendimiento

Tecnología de semiconductores para comunicaciones satelitales de banda ancha alcanza una eficiencia récord

Investigadores del Fraunhofer IAF han desarrollado una tecnología de transistores de GaN con una longitud de puerta de 70 nm, que alcanza valores récord en eficiencia bajo condiciones típicas de satélites. Se espera que esta tecnología permita en el futuro antenas activas compactas para transfe…

Apertura del Centro Europeo de Pruebas y Confiabilidad (ETRC) en Chemnitz: el Prof. Dr. Harald Kuhn, Director del Instituto del Fraunhofer ENAS (centro, en el timbre), da la señal de inicio para el nuevo centro junto con representantes destacados de la industria, la política y la investigación. También en el lugar (de izquierda a derecha): Laith Altimime, Presidente de SEMI Europe; Clemens Otte, Jefe de la Asociación de Microelectrónica en ZVEI; Rose Hu, Directora Senior de Ingeniería de Aplicaciones, Advantest Europe GmbH; Prof. Dr.-Ing. Albert Heuberger, Director del Fraunhofer IIS y Portavoz de la Fábrica de Investigación de Microelectrónica Alemania (FMD); Dr. Tim Gutheit, Vicepresidente de Tecnología e Innovación Automotriz, Infineon Technologies AG; Heike Vocke, Directora General de iSAX y miembro del Patronato del Fraunhofer ENAS; Dr. Manfred Horstmann, Director General y Vicepresidente Senior, GlobalFoundries; Volker Herbig, Vicepresidente, Grupo X-FAB. © Fraunhofer ENAS/André Wirsig Juntos somos fuertes para el nuevo Centro Europeo de Pruebas y Confiabilidad (ETRC) (de izquierda a derecha): Prof. Dr. Harald Kuhn, Director del Instituto de Fraunhofer ENAS, y Prof. Dr. Daniel Kriesten, Director del ETRC. © Fraunhofer ENAS/André Wirsig
  • Ciencia

Chemnitz se convierte en un punto de referencia europeo para las pruebas de semiconductores e investigación de fiabilidad con el nuevo «European Test and Reliability Center»

El Fraunhofer ENAS celebra la apertura del »European Test and Reliability Centers« (ETRC). Con el apoyo de la Unión Europea (UE), del Ministerio Federal de Investigación, Tecnología y Espacio (BMFTR) y del Estado Libre de Sajonia, el Instituto Fraunhofer para Sistemas Electrónicos Nanoscale EN…

Mejor informado: Con el ANUARIO, BOLETÍN, NEWSFLASH, NEWSEXTRA y el DIRECTORIO DE EXPERTOS

Manténgase al día y suscríbase a nuestro BOLETÍN mensual por correo electrónico y al NEWSFLASH y NEWSEXTRA. Obtenga más información sobre el mundo de las salas limpias con nuestro ANUARIO impreso. Y descubra quiénes son los expertos en salas limpias en nuestro directorio.

Vaisala Pfennig Reinigungstechnik GmbH PMS ClearClean