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Investigadores del Fraunhofer IWS se establecen como «DIVE imaging systems»
Un ojo hiperespectral afilado para la producción de chips
Un análisis preciso y superficial de capas de alta tecnología en microelectrónica, en fábricas de baterías o también en el sector automotriz se acerca rápidamente. Esto es posible gracias a un sistema de medición desarrollado en el Instituto Fraunhofer para Tecnología de Materiales y Radiación IWS…








