Więcej widzieć, szybciej rozumieć ? Systemy inspekcyjne dla najwyższej przepustowości
W przemyśle półprzewodnikowym inspekcja, kontrola procesu i analiza błędów wafli muszą być szybkie, pewne i ergonomiczne. Leica Microsystems wprowadza na rynek nową linię produktów, Leica DM8000 M i Leica DM12000 M, które spełniają te wymagania optymalnie. Nowe instrumenty są dostępne opcjonalnie do…








