Leica Microsystems Standort Wien otrzymuje certyfikat zgodnie z DIN EN ISO 14001

Dział przygotowania próbek EM firmy Leica Microsystems w Wiedniu uzyskał certyfikację zgodnie z DIN EN ISO 14001 dotyczącą zarządzania środowiskowego. Zdjęcie przedstawia pracowników przed budynkiem firmy w Wiedniu. / Dział przygotowania próbek EM firmy Leica Microsystems w Wiedniu uzyskał certyfikat DIN EN ISO 14001 na zarządzanie środowiskowe – na zdjęciu zespół z Wiednia przed budynkiem.

Leica Microsystems GmbH, Wien, otrzymała certyfikat zarządzania środowiskowego zgodnie z DIN EN ISO 14001. Certyfikat dotyczy wiedeńskiego oddziału Leica Microsystems, w którym globalna firma technologiczna prowadzi swoją działalność w zakresie przygotowania próbek do mikroskopii elektronowej (EM). Proces certyfikacji rozpoczął się we wrześniu ubiegłego roku. W ramach tego procesu zintegrowano również istniejący system zarządzania jakością oddziału z systemem zarządzania zgodnym z normą ISO 14001.

Mario Molitor, Menedżer ds. Jakości i Środowiska RA/QA w Leica Microsystems, mówi: „W Leica Microsystems ochrona środowiska jest priorytetem.” Jako część grupy firm Danaher, Leica Microsystems przestrzega wytycznych Danaher dotyczących ochrony środowiska i bezpieczeństwa pracy oraz spełnia lokalne przepisy i regulacje, a nawet je przewyższa. „Certyfikat ISO-14001 często stanowi warunek udziału w przetargach. Jest widocznym dowodem naszego zobowiązania do przestrzegania standardów ochrony środowiska.”

W zakresie przygotowania próbek EM Leica Microsystems koncentruje się na rozwiązaniach przepływu pracy dla szerokiego zakresu zastosowań w badaniach biomedycznych oraz naukach materiałowych. Próbki EM muszą być traktowane z szczególną ostrożnością, aby uniknąć uszkodzeń w procesie przygotowania. „Podczas opracowywania wszystkich narzędzi naszej gamy produktów dbamy o to, aby bezproblemowo wpisywały się w przepływ pracy. W ścisłej współpracy nasi menedżerowie produktów i specjaliści ds. aplikacji zapewniają, że narzędzia są optymalnie dopasowane do siebie” – wyjaśnia Ian Lamswood, Dyrektor Marketingu w Leica Microsystems. Najnowszym produktem jest system do korelacyjnej mikroskopii świetlnej i elektronowej (CLEM). Przed obrazowaniem w EM użytkownicy mogą szybko uzyskać przegląd swojej próbki pod mikroskopem fluorescencyjnym i uzyskać głębsze wglądy poprzez korelację obrazu fluorescencyjnego z obrazem z mikroskopu elektronowego. Próbki są w tym czasie utrzymywane w warunkach kriogenicznych w temperaturze -195°C.